手持式XRF传感器：Olympus Vanta XRF 技术原理：能量散射X射线荧光光谱分析法（EDXRF) X射线源： Vanta C型号：4W/40kV， Rh阳极 Vanta M型号：4W/50kV， Rh阳极 探测器： SDD硅漂移检测器 元素测量范围：Mg-U 空间分辨率：1cm 部分化学元素检测限ppm： Mg＜3000、Al ＜400 、Si＜400、P＜50 、S＜50 、Cl＜50、K＜25、Ca＜25、Ti＜25 Cr＜10、 Mn＜5、 Fe＜5、Rb＜5、Sr＜5、Mo＜5、Pb＜5、U＜5 测量过程中不使用氦气。

手持式XRF传感器 Olympus Delta Professional XRF： 技术原理：能量散射X射线荧光光谱分析法（EDXRF) X射线源：4W/40kV， Rh阳极 探测器：SDD硅漂移检测器 元素测量范围：Mg-U 空间分辨率：1cm 部分化学元素检测限ppm： Mg＜1%、Al＜0.5%、Si＜0.5%、P 800-1500、S150-300、K40-60、Ca25-40、Ti 7-15、Mn10、Fe10、Rb1-3、Sr1-3、Mo1-3、Ag40-50、Zr1-3、Pb2-4、U2-4 测量过程中不使用氦气。